微型三角度光澤儀

在正確的角度下 -觀察產(chǎn)品的變化

高-中-低光澤：您的應(yīng)用屬于哪一種?

三角度光澤儀集 20°, 60°, 85° 三種角度于一體 - 

如同單角度儀器一樣便攜。三個(gè)角度在一臺(tái)儀器上

使您能按標(biāo)準(zhǔn)迅速覺察到質(zhì)量的變化。

為了清楚地得到從平光到高光的整個(gè)范圍內(nèi)的光澤度差值，

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了三個(gè)角度。每個(gè)角度都在對(duì)應(yīng)的光澤范圍內(nèi)

進(jìn)行優(yōu)化測(cè)量。

所有被選擇的角度在同一個(gè)點(diǎn)上測(cè)量，并立即顯示測(cè)量結(jié)果 -

包括：統(tǒng)計(jì)、差值、合格/不合格結(jié)果。

以下例子在20°角下兩個(gè)樣品的讀數(shù)更能顯示出兩個(gè)樣品間

光澤的差異：

微型三角度光澤儀 μ

光澤和厚度測(cè)量集于一身

一個(gè)好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達(dá)到客戶要求的質(zhì)量

規(guī)格。光澤和厚度是評(píng)估涂層質(zhì)量的重要參數(shù)。

微型三角度光澤儀μ可在幾秒內(nèi)在同一個(gè)測(cè)量點(diǎn)上同時(shí)測(cè)量這

兩個(gè)參數(shù)，不僅節(jié)省時(shí)間而且在現(xiàn)場(chǎng)使用也十分理想 - 僅需使

用1臺(tái)儀器。

■ 同時(shí)顯示20°, 60°, 85° – 用于高、中、低光澤涂料

■ 磁性/非磁性兩用型探頭 – 在鋼或鋁基材上測(cè)量涂層厚度

標(biāo)準(zhǔn)       

              光澤            厚度

ISO      2813, 7668    2178, 2360, 2808

ASTM   D523            B499,D1400

DIN      67530

新型光澤儀S系列

啞光表面處理不僅是新的設(shè)計(jì)趨勢(shì)，而且對(duì)于要求表面無反

射或低反射這類應(yīng)用而言也是至關(guān)重要的 - 例如汽車內(nèi)飾件。

通常有各種各樣的材料，從皮革到塑料，同時(shí)使用時(shí)需要和

諧一致。另外，從大顆粒到精細(xì)的條紋等各種不同的表面結(jié)

構(gòu)通常呈現(xiàn)出非常低的光澤。為了確保在不同部件上一致的

視覺感受，必須規(guī)定極嚴(yán)格的允差范圍。

只有極其的測(cè)試儀器才能客觀地控制生產(chǎn)。新型光澤儀

S系列產(chǎn)品提升了60°角度下在低光澤（0-20GU）范圍內(nèi)的測(cè)

量精度。通過在光澤儀生產(chǎn)過程中具有的校準(zhǔn)程序，保

證了的精度。

的儀器間重復(fù)性

技術(shù)指標(biāo)

微型光澤儀XS

小部件用小口徑光澤儀

當(dāng)今，很多產(chǎn)品不僅是由不同的部件構(gòu)成，同時(shí)要求這些部

件具有類似的表面外觀。造型優(yōu)美的設(shè)計(jì)已成為產(chǎn)品能否成

功的重要因素，諸如手機(jī)、電腦或者家用電器。需要將小部

件整合到大部件中并融為一體，例如框架、按???以及裝飾性

的零部件。這些產(chǎn)品的大小和設(shè)計(jì)使它們很難用傳統(tǒng)的光澤

儀進(jìn)行評(píng)估。

微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀，測(cè)量口徑2 x 4 mm，是測(cè)

量小部件光澤的理想方案，確保使之與大部件相統(tǒng)一。

額外新增的版本是增強(qiáng)型微型60°光澤儀 XS-S, 其技術(shù)性能適

用于測(cè)量非常低光澤表面的產(chǎn)品。

特殊應(yīng)用的光澤測(cè)量

特殊的材料要求特殊的測(cè)量角度：

陶瓷材料，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，紙張和硬紙板不僅可用20°,

60°, 85°常規(guī)角度進(jìn)行測(cè)量，也可按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)選擇45° 或

75°。

微型光澤儀 45°

對(duì)于中低光澤產(chǎn)品，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，不論透明還是不

透明材質(zhì)，通常都用45°角來測(cè)量。對(duì)于透光的薄膜，請(qǐng)用型

號(hào)為5015的黑色耐擦洗實(shí)驗(yàn)板作為啞光黑色背景（174頁）墊

于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測(cè)量會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤。

標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法要求每個(gè)樣品至少測(cè)量三個(gè)點(diǎn)，以獲取光澤          

微型光澤儀45°：特別應(yīng)用在陶瓷、塑料和薄膜的光澤測(cè)量

均質(zhì)性指征。微型光澤儀統(tǒng)計(jì)測(cè)量模式，可顯示平均值和差

值范圍或者顯示測(cè)量樣品的均質(zhì)性的標(biāo)準(zhǔn)偏差值。

陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測(cè)量失光率可以

對(duì)比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。

為了評(píng)估光澤的變化有必要多次測(cè)量整個(gè)樣品表面并取平均

值，確保得到有代表性的結(jié)果。

標(biāo)準(zhǔn)

ASTM  C346, D2457

JIS     Z8741

技術(shù)指標(biāo)

特殊應(yīng)用的光澤測(cè)量
微型光澤儀 75°

特別是有涂層的紙張，還有很多無涂層的紙張都需要進(jìn)行光

澤控制。75°光澤儀適用于大多數(shù)墨膜的紙張和硬板紙。顏

色的差異對(duì)測(cè)量光澤幾乎沒有影響。例如，一個(gè)白色產(chǎn)品表

面所測(cè)得的光澤只會(huì)比相同的黑色表面僅高出不到1個(gè)光澤

單位。

光澤非常高的紙張（漆面的，涂漆的，或者上過蠟的）需要

在20°角下測(cè)量光澤。

TAPPI（美國(guó)紙漿與造紙工業(yè)技術(shù)協(xié)會(huì)）標(biāo)準(zhǔn)中定義批量質(zhì)檢

要求檢查至少十個(gè)樣品有無褶皺或其他瑕疵。smart-lab 是理

想的文件處理和數(shù)據(jù)溝通的光澤測(cè)量軟件。項(xiàng)目管理功能記

錄材料隨時(shí)間推移的質(zhì)量變化過程，并通過轉(zhuǎn)化為PDF或者

Excel格式發(fā)給相關(guān)人員。

另一個(gè)使用75°特殊角度進(jìn)行光澤測(cè)量的典型材料是聚乙烯板

材，其大部分由堅(jiān)硬的PVC制成，用來做建筑物的復(fù)合外墻。

為了評(píng)估大面積樣品的均質(zhì)性，可使用“連續(xù)測(cè)量模式”，預(yù)設(shè)

測(cè)量間隔并將微型光澤儀在樣品上滑行測(cè)量，儀器上將顯示

連續(xù)測(cè)量的光澤度值。

微型光澤儀75°：特別應(yīng)用在紙張、紙板和表面有結(jié)構(gòu)的塑

料，如聚乙烯板材。

選擇模式...                      測(cè)量...

標(biāo)準(zhǔn)

ASTM   D2457, D3679

ASTM   Z8741

TAPPI  T480

技術(shù)指標(biāo)

訂購(gòu)信息

技術(shù)指標(biāo)

新型號(hào)

舊型號(hào)

 名稱

角度

應(yīng)用

測(cè)量面積

4560

4440

微型光澤儀 20°

20°

高光澤

10 x 10 mm (0.4 x 0.4 in)

4561

4442

微型光澤儀 60°

60°

中光澤

9 x 15 mm (0.35 x 0.6 in)

4562

4444

微型光澤儀 85°

85°

低光澤

5 x 38 mm (0.2 x 1.5 in)

4563

4446

微型三角度光澤儀  

20°, 60°, 85°

各種光澤

參見各角度

4564

4448

微型三角度光澤儀μ

20°, 60°, 85°

各種光澤

參見各角度

4565

4450

微型光澤儀 60°S

60°

中光澤

9 x 15 mm (0.35 x 0.6 in)

4566

4452

微型三角度光澤儀S

20°, 60°, 85°

各種光澤

參見各角度

4567

4454

微型光澤儀 45°

45°

陶瓷、塑料、薄膜

9 x 13 mm (0.35 x 0.5 in)

4568

4456

微型光澤儀 75°

75°

紙張、聚乙烯

7 x 24 mm (0.3 x 0.95 in)

4569

----

微型光澤儀 60°XS

60°

中光澤

2 x 4 mm (0.08 x 0.16 in)

4570

----

微型光澤儀 60° XS-S

60°

中光澤

2 x 4 mm (0.08 x 0.16 in)

基本配置：

主機(jī)；帶校準(zhǔn)板的底座；可追溯的證書；

USB線纜，電池；操作手冊(cè)；電池；攜帶箱

可供下載的軟件: smart-lab Gloss 或 smart-process Gloss 含2個(gè)許可證

注意：軟件下載后所有的軟件包可以免費(fèi)試用30天。之后，用戶

需決定并注冊(cè)其中一個(gè)軟件包。

延長(zhǎng)質(zhì)保服務(wù)：請(qǐng)參見技術(shù)服務(wù)章節(jié)

系統(tǒng)要求：

操作系統(tǒng)： Windows® SP1 或 8.1

8.1Microsoft® . NET Framework

硬件：Core 2 Duo, 2.2 GHz, i7 或相當(dāng)

內(nèi)存：4 GB RAM, 8 GB 建議

硬盤：zui少300MB

顯示器：1280 x 1024 或更高

接口：USB端口

測(cè)量范圍¹

0 - 100 GU

100 - 2000 GU

重復(fù)性²

± 0.2 GU

± 0.2 %

重現(xiàn)性²

± 0.5 GU

± 0.5 %

光譜敏感度

用于CIE-C光源的觀察器，符合CIE1931標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)量時(shí)間

 0.5 秒 / 角度

厚度

底材

Fe: 磁性   NFe: 非磁性

測(cè)量范圍

 0 - 500 μm (0 - 20 mils)

精度

± (1.5 μm +2% 測(cè)量值)

存儲(chǔ)

999個(gè)讀數(shù)帶日期和時(shí)間

接口

USB

電源

1節(jié)1.5V AA堿性電池 測(cè)量4000個(gè)讀數(shù)或者通過USB端口

尺寸

 155 x 73 x 48 mm (6.1 x 2.9 x 1.9 in)

重量

0.4 kg (0.9 lbs)

操作溫度

 15 - 40 °C (60 - 104 °F)

相對(duì)濕度

 高達(dá)85%，無凝露